联讯仪器取得晶圆老化测试电路相关专利，该电路可在晶圆击穿时钳流护器件

2026-07-25 10:34:12 公司新闻 5

　　7月25日消息，国家知识产权局信息显示，苏州联讯仪器股份有限公司申请一项名为“一种晶圆老化测试电路及系统”的专利，授权公告号CN224553411U，授权公告日为2026年7月24日。申请号为CN202521373560.1，申请公布日期为2026年7月24日，申请日期为2025年7月1日，发明人陈远来，专利代理机构广州三环专利商标代理有限公司，专利代理师王若愚，分类号G01R31/26。

　　专利摘要显示，本申请涉及一种晶圆老化测试电路及系统，该晶圆老化测试电路包括包括电源模块、至少一个测试模块及至少一个第一保护模块；任一测试模块与待测晶圆的相应待测功率管连接；电源模块包括高压源和低压源；高压源用于为任一待测功率管的漏极提供测试信号，低压源用于为任一待测功率管的栅极提供基准电源；第一保护模块包括第一常闭开关器件和第一保护电阻，第一常闭开关器件的漏极与待测功率管的源极相连接，第一常闭开关器件的源极与第一保护电阻的第一端相连接，第一常闭开关器件的栅极与第一保护电阻的第二端相连接，第一保护电阻的第二端接地。当待测功率管老化击穿时，第一常闭开关器件可以将电流钳制在设定范围内，有效保护电路中的器件。

　　联讯仪器成立于2017年3月15日，2026年4月24日登陆上海证券交易所，注册及办公地点均位于江苏省苏州市，是国内领先的高速半导体与光电子测试设备核心供应商，拥有全栈自研技术壁垒。

　　公司主营电子测量仪器和半导体测试设备的研发、制造、销售及服务，所属申万行业为机械设备-通用设备-仪器仪表，同时覆盖近端次新、光通信、CPO概念三大热门概念赛道。

　　2025年联讯仪器实现营业收入11.94亿元，在62家同行业可比公司中排名第13，高于9.68亿元的行业平均水平与5.45亿元的行业中位数，头部企业川仪股份、咸亨国际分别以68.05亿元、45.61亿元位列行业营收前两位；当期归母净利润达1.74亿元，行业排名第8，大幅超出6766.57万元的行业平均净利润与6682.27万元的行业净利润中位数，川仪股份、柯力传感分别以6.52亿元、3.91亿元占据行业净利润前两位。从业务结构来看，半导体测试设备、电子测量仪器为公司两大核心收入来源，合计贡献超九成营收。

业务板块
营收规模
营收占比
半导体测试设备5.57亿元46.66%
电子测量仪器5.46亿元45.71%
测试部件7122.42万元5.96%
其他业务1230.29万元1.03%
其他760.76万元0.64%

　　苏州联讯仪器股份有限公司近期专利情况如下：

序号
专利名称
专利类型
法律状态
申请号
申请日期
公开(公告)号
公开(公告)日期
发明人
1一种多测量单元虚拟化管理方法及装置发明专利公布CN202610939023.12026-06-26CN122450576A2026-07-24栗世尧、胡国锋、邱亮、李甲福、潘朝松、朱亦鸣
2采样示波器的时基校准方法、系统、电子设备及存储介质发明专利公布CN202610909668.02026-06-23CN122430767A2026-07-21赵嘉成、段庆武
3一种硅光测试设备及控制方法发明专利公布CN202610543409.02026-04-23CN122410269A2026-07-17罗跃浩、潘朝松、徐立、李甲福
4一种时序对齐方法、装置、介质及设备发明专利授权CN202610438320.82026-04-03CN121967941B2026-07-07彭兴贵、梁可、邵毅男、孙剑辉、祁言
5时序对齐方法、装置、介质及设备发明专利授权CN202610438312.32026-04-03CN121967940B2026-07-07梁可、彭兴贵、邵毅男、赵品彰、冯亮
6一种菜单侧边栏的目标控件控制方法及装置发明专利实质审查的生效、公布CN202610418457.72026-04-01CN121957442A2026-05-01胡靖民、邵毅男、廉哲、赵品彰、孙剑辉
7一种延时补偿方法、装置、电子设备及存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610414831.62026-03-31CN122339474A2026-07-03邱建硕、生兆东、陈晓东
8一种器件测试方法、设备、装置及存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610393786.02026-03-27CN122345771A2026-07-07徐立、潘朝松、张驾祥、曹勋、李甲福
9一种导热介质的状态检测方法及装置发明专利实质审查的生效、公布CN202610360913.72026-03-24CN122150319A2026-06-05王雪松、邓仁辉、邵毅男
10一种基于微弱信号处理的阻抗测量装置及方法发明专利授权CN202610345877.72026-03-20CN121878282B2026-07-07邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松
11一种阻抗测量装置及方法发明专利授权CN202610345874.32026-03-20CN121878281B2026-07-07邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松
12一种基于微弱电流测量的阻抗测量装置及方法发明专利授权CN202610345880.92026-03-20CN121878283B2026-07-07邱亮、胡海洋、朱亦鸣、廉哲、潘朝松
13一种信号均衡方法、装置及电子设备发明专利授权CN202610281681.62026-03-10CN121814517B2026-05-08汤鑫、焦健、生兆东、赵品彰、孙剑辉
14一种高速线缆误码测试机发明专利实质审查的生效、公布CN202610282297.82026-03-10CN122026953A2026-05-12邓仁辉、刘严、邵毅男、廉哲
15应用于误码仪的自适应均衡方法、装置、介质及设备发明专利实质审查的生效、公布CN202610268192.72026-03-06CN121792445A2026-04-03董成龙、胡靖民、赵品彰、孙剑辉
16一种阻抗测量系统及阻抗测量方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610272361.42026-03-06CN121933812A2026-04-28廉哲、潘朝松、曹勋、贺江云
17一种超景深图像融合方法、装置、设备和可读存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202610258831.12026-03-04CN122175801A2026-06-09周月明、孙志青
18一种芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202610196778.72026-02-11CN121721469A2026-03-24李大伦、金鹏
19一种源测量电路以及电压输出方法发明专利实质审查的生效、公布CN202610188262.82026-02-10CN121955486A2026-05-01夏少俊
20校准模型建立方法、装置、设备、介质及仪表校准方法发明专利授权CN202610192131.72026-02-10CN121683297B2026-05-15王古龙、杜佳伟
21光模块误码测试装置外观专利授权CN202530758900.12025-12-23CN310079294S2026-07-10邓仁辉、邵毅男、廉哲
22一种芯片测试系统的控制方法及芯片测试系统发明专利实质审查的生效、公布CN202511652101.12025-11-12CN121454284A2026-02-03赵山、赵子闯、王飞、谢智寅
23一种用于COC芯片的上下料机发明专利实质审查的生效、公布CN202511636008.12025-11-10CN121448818A2026-02-03徐兴超
24一种COC芯片的测试系统及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511636002.42025-11-10CN121470122A2026-02-06徐兴超
25一种COC芯片的测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511636004.32025-11-10CN121493589A2026-02-10徐兴超
26一种用于芯片的测试夹具及老化设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511619038.12025-11-06CN121142115A2025-12-16张爱林、郭孝明、徐鹏嵩
27一种示波器上位机的信息显示方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511619052.12025-11-06CN122195546A2026-06-12吴皓杰、生兆东、袁保阳
28应用于数字带宽交织采样的触发方法、触发器、介质及设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511611352.52025-11-05CN122204236A2026-06-12尚军伟、周林达、生兆东、廉哲
29一种芯片定位方法、系统及芯片位置矫正装置发明专利实质审查的生效、公布CN202511584534.82025-10-31CN121120782A2025-12-12赵山、施志虎、孙成扬、戈明康
30一种芯片测试设备发明专利公布CN202511584539.02025-10-31CN121142281A2025-12-16赵山、孙成扬、施志虎
31一种芯片AOI检测设备和芯片测试设备发明专利公布CN202511584533.32025-10-31CN121207970A2025-12-26任鸿昌、施志虎、孙成扬
32一种芯片搬运装置及芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511581612.92025-10-31CN121247341A2026-01-02施志虎、文根发、孙成扬、赵山
33一种芯片吸附设备、芯片测试系统及控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511584537.12025-10-31CN121419599A2026-01-27赵山、孙成扬、施志虎
34一种半导体测试设备、光电对位方法以及测试方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511562197.22025-10-29CN121454266A2026-02-03施志虎、赵山、孙成扬
35一种自适应调节的不平衡供电电路、方法及精密源表发明专利实质审查的生效、公布CN202511425995.02025-09-30CN121097615A2025-12-09王玉杰、孙旭
36一种数据处理方法、装置及电子设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511419500.32025-09-30CN122195788A2026-06-12匡恒、生兆东、廉哲
37一种器件测试方法、装置、电子设备及存储介质发明专利实质审查的生效、公布CN202511306559.12025-09-12CN121143881A2025-12-16李甲福、潘朝松、林甲威、徐立
38一种光模块误码率测试设备发明专利授权、实质审查的生效CN202511259617.X2025-09-04CN120811479B2025-11-18邓仁辉、邵毅男、廉哲
39一种tray盘上下料装置及其控制方法和芯片测试设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511227197.72025-08-29CN120736214A2025-10-03孙成扬、任鸿昌
40一种晶圆上下料机、芯片测试设备及其控制方法发明专利授权、公布CN202511227566.22025-08-29CN120717207B2025-10-31孙成扬
41tray盘上下料机、芯片测试设备及控制方法发明专利授权、公布CN202511227514.52025-08-29CN120717206B2025-10-31孙成扬、施志虎
42一种芯片测试机及芯片测试设备发明专利公布CN202511227676.92025-08-29CN120971936A2025-11-18孙成扬
43芯片传输机构及其控制方法和芯片测试设备发明专利公布CN202511227646.82025-08-29CN121020133A2025-11-28孙成扬
44一种芯片测试设备及测试方法发明专利公布CN202511229965.22025-08-29CN121027144A2025-11-28孙成扬
45一种芯片测试系统及其控制方法发明专利实质审查的生效、公布CN202511227613.32025-08-29CN121171948A2025-12-19孙成扬
46一种嵌入式设备的检测方法、装置及设备发明专利实质审查的生效、公布CN202511162042.X2025-08-19CN121166416A2025-12-19王玲、杜佳伟
47一种硅光晶圆测试方法及一种硅光晶圆测试装置发明专利实质审查的生效、公布CN202511098038.12025-08-06CN120629900A2025-09-12陆姜鹏、谢智寅、施志虎、强飞飞
48一种芯片探针卡平面度调节机构及芯片测试设备发明专利公布CN202511095277.12025-08-06CN120685942A2025-09-23孙成扬、施志虎
49一种旋转中心标定方法、位姿调整机构及晶圆测试装置发明专利授权CN202511098047.02025-08-06CN120593625B2025-11-18张恒、周立东、施志虎、陈伟伟
50一种巴伦结构以及通信设备发明专利实质审查的生效、公布CN202510922116.92025-07-04CN122202813A2026-06-12丁健、陈晓东、廉哲、袁保阳