杭州高裕电子科技取得结温测试电路相关专利，兼容NMOS与PMOS的结温测试作用

2026-08-01 10:16:06 公司新闻 0

　　8月1日消息，国家知识产权局信息显示，杭州高裕电子科技股份有限公司申请一项名为“一种选型切换加热电路、结温测试电路及结温测试方法”的专利，授权公告号CN117907785B，授权公告日为2026年7月31日。申请公布号为CN117907785A，申请号为CN202410063912.7，申请公布日期为2026年7月31日，申请日期为2024年1月16日，发明人刘年富、魏徕、吴志刚、陈益敏、田熠，专利代理机构北京维正专利代理有限公司，专利代理师陈翠杰，分类号G01R31/26。

　　专利摘要显示，本申请涉及老化测试的技术领域，尤其是涉及一种选型切换加热电路、结温测试电路及结温测试方法，其包括：电压源，包括电源电压正极PWR+和电源电压负极PWR‑，用于为待测MOS管提供加热电压；加热电流提供模块，用于根据参考电流输出相应的恒定加热电流；MOS管放置模块，用于放置待测MOS管，其连接于电压源；电源反向切换模块，连接于加热电流提供模块，电源反向切换模块用于根据待测MOS管类型切换电压源的电源电压正极PWR+位置以改变参考电流方向；信号反向切换模块，用于根据MOS管放置模块上的待测MOS管类型切换恒定加热电流对应的信号正反。本申请具有实现对NMOS和PMOS的兼容结温测试的效果。

　　天眼查数据显示，杭州高裕电子科技股份有限公司成立日期2009年10月16日，法定代表人吴志刚，所属行业为计算机、通信和其他电子设备制造业，企业规模为小型，注册资本5316万人民币，实缴资本5316万人民币，注册地址为浙江省杭州市西湖区三墩镇苏振路100号紫金港云谷中心5号楼1-5层。杭州高裕电子科技股份有限公司共对外投资了2家企业，参与招投标项目86次，财产线索方面有商标信息5条，专利信息43条，拥有行政许可53个。

　　杭州高裕电子科技股份有限公司近期专利情况如下：

序号
专利名称
专利类型
法律状态
申请号
申请日期
公开(公告)号
公开(公告)日期
发明人
1一种HPD模块自动化测试装置实用新型授权CN202521300301.62025-06-24CN224231293U2026-05-12吴志刚、魏徕、陈益敏、刘年富
2一种用于高压硅堆全动态测试装置实用新型授权CN202521167731.52025-06-09CN224231899U2026-05-12刘年富、魏徕、陈益敏、吴志刚
3一种二极管高温大电流测试装置实用新型授权CN202521055565.X2025-05-27CN224303798U2026-05-29陈益敏、魏徕、刘年富、吴志刚
4一种带加热功能的大功率模块测试装置发明专利实质审查的生效、公布CN202410462723.72024-04-17CN118362757A2024-07-19魏徕、刘年富、陈益敏、吴志刚、孔志天、田熠
5一种用于HTRB和HTGB循环老化测试电路及方法发明专利实质审查的生效、公布CN202410072270.72024-01-18CN117991067A2024-05-07陈益敏、魏徕、吴志刚、刘年富、田熠
6一种选型切换加热电路、结温测试电路及结温测试方法发明专利授权CN202410063912.72024-01-16CN117907785B2026-07-31刘年富、魏徕、吴志刚、陈益敏、田熠
7一种半导体试验箱发明专利实质审查的生效、公布CN202311397083.82023-10-25CN117250464A2023-12-19刘年富、吴志刚、陈益敏、魏徕、田熠
8一种压接式阻断测试装置发明专利实质审查的生效、公布CN202311376403.12023-10-24CN117347809A2024-01-05陈益敏、吴志刚、刘年富、魏徕、孔志天
9一种用于三电平功率模块的高温反偏老化测试方法发明专利专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权、实质审查的生效、公布CN202311070760.52023-08-23CN117092477B2024-03-08吴志刚、刘年富、陈益敏、魏徕、田熠
10一种用于三电平功率模块的高温反偏老化测试模块发明专利授权、公布CN202311066246.42023-08-23CN117092476B2025-01-14吴志刚、刘年富、陈益敏、魏徕、刘晖
11一种用于SIC功率循环测试的装置发明专利专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权、实质审查的生效、公布CN202310706535.X2023-06-15CN116449171B2023-09-29吴志刚、刘年富、陈益敏、魏徕、刘晖
12一种SIC功率循环测试方法发明专利授权、实质审查的生效、公布CN202310710262.62023-06-15CN117148083B2024-03-08吴志刚、刘年富、陈益敏、魏徕、刘晖
13一种二极管全动态老化方法发明专利专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权、实质审查的生效、公布CN202310462625.92023-04-26CN116224012B2024-03-29吴志刚、刘年富、陈益敏、魏徕
14一种二极管全动态老化设备发明专利专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权、公布CN202310462594.72023-04-26CN116520118B2024-10-29吴志刚、刘年富、陈益敏、魏徕
15一种二极管全动态老化电路发明专利专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权、公布CN202310462602.82023-04-26CN116466207B2024-11-08吴志刚、刘年富、陈益敏、魏徕
16一种功率模块双加电测试系统的电路控制结构实用新型专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权CN202320391144.92023-03-06CN219695260U2023-09-15吴志刚、刘年富、陈益敏、魏徕
17一种高加速偏压老化测试系统实用新型专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权CN202320391146.82023-03-06CN219715572U2023-09-19吴志刚、刘年富、陈益敏、魏徕
18一种电功率模块的老化试验设备实用新型专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权CN202320364747.X2023-03-02CN219695186U2023-09-15吴志刚、刘年富、陈益敏、魏徕
19一种间歇寿命老化测试系统实用新型专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权CN202320364748.42023-03-02CN219715512U2023-09-19吴志刚、刘年富、陈益敏、魏徕
20一种用于功率模块的功率循环测试系统实用新型专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更、授权CN202320364749.92023-03-02CN219997232U2023-11-10吴志刚、刘年富、陈益敏、魏徕